JASCO V-770 UV-VIS-NIR Spektrofotometre, UV-Visible ve Yakın Kızılötesi (NIR) bölgede geniş spektral analiz kapasitesi sunan araştırma sınıfı bir spektrofotometredir. Cihaz, UV-Visible bölgesi için yüksek hassasiyetli Photomultiplier Tube (PMT) dedektörü ile NIR bölgesi için Peltier soğutmalı PbS dedektörünü aynı optik sistem içerisinde kullanarak tüm spektral aralık boyunca yüksek sinyal/gürültü oranı sağlar.
V-770 modeli, tek monokromatörlü ancak tam simetrik çift ışınlı (Fully Symmetrical Double Beam) optik tasarıma sahiptir. Bu yapı, çift monokromatörlü sistemlere göre daha yüksek optik enerji geçirgenliği sağlayarak özellikle NIR bölgesinde difüz reflektans, mutlak reflektans ve düşük geçirgenlikli numunelerde daha yüksek sinyal elde edilmesine olanak tanır.
190-2700 nm standart dalga boyu aralığına sahip olan sistem, opsiyonel olarak 3200 nm'ye kadar genişletilebilir. UV-Visible ve NIR bölgelerinde bağımsız kırınım ızgaraları ve otomatik dedektör geçiş sistemi kullanılarak tüm spektral aralık boyunca optimum performans elde edilir.
IQ Accessory teknolojisi sayesinde bağlı aksesuarlar otomatik olarak tanınır ve ilgili yöntemler yüklenebilir. IQ Start fonksiyonu tek tuşla rutin analiz başlatılmasını sağlar. Spectra Manager II yazılımı; spektrum tarama, kantitatif analiz, kinetik analiz, zaman taraması, reflektans analizleri, renk analizleri ve gelişmiş veri işleme fonksiyonlarını destekler. Opsiyonel 21 CFR Part 11 yazılımı elektronik kayıt ve kullanıcı yönetimi gereksinimlerini karşılar.
Teknik Özellikler
• Ölçüm prensibi: UV-Visible / Near Infrared (UV-VIS-NIR) Spektrofotometre
• Optik sistem: Fully Symmetrical Double Beam
• Monokromatör: Tek monokromatör (Single Monochromator)
• Optik tasarım: Czerny-Turner
• Dalga boyu aralığı:
- Standart: 190-2700 nm
- Opsiyonel: 190-3200 nm
• Işık kaynakları:
- Döteryum lamba
- Tungsten-Halojen lamba
• Dedektörler:
- UV-Visible: Photomultiplier Tube (PMT)
- NIR: Peltier soğutmalı PbS dedektör
• Dalga boyu doğruluğu:
- ±0,3 nm (656,1 nm)
- ±1,5 nm (1312,2 nm)
• Dalga boyu tekrarlanabilirliği:
- ±0,05 nm (UV-Visible)
- ±0,2 nm (NIR)
• Spektral bant genişliği (UV-Visible):
- 0,1 nm
- 0,2 nm
- 0,5 nm
- 1 nm
- 2 nm
- 5 nm
- 10 nm
- L2, L5, L10 düşük kaçak ışık modları
- M1, M2 mikro hücre modları
• Spektral bant genişliği (NIR):
- 0,4 nm
- 0,8 nm
- 1 nm
- 2 nm
- 4 nm
- 8 nm
- 20 nm
- 40 nm
- L8, L20, L40 düşük kaçak ışık modları
- M4, M8 mikro hücre modları
• Fotometrik ölçüm aralığı:
- UV-Visible: -4 ile +4 Abs
- NIR: -3 ile +3 Abs
• Fotometrik doğruluk:
- ±0,0015 Abs (0-0,5 Abs)
- ±0,0025 Abs (0,5-1 Abs)
- ±0,3 %T
• Fotometrik tekrarlanabilirliği:
- ±0,0005 Abs
• Kaçak ışık (UV-Visible):
- %1 (198 nm KCl)
- %0,0005 (220 nm NaI)
- %0,0005 (340 nm NaNO₂)
- %0,0005 (370 nm NaNO₂)
• Kaçak ışık (NIR):
- %0,04 (1420 nm H₂O, L8 modu)
- %0,1 (1690 nm CH₂Br₂, L8 modu)
• RMS gürültü:
- 0,00003 Abs (500 nm, 60 sn, SBW 2 nm)
• Baz çizgisi düzlüğü:
- ±0,0002 Abs (200-2500 nm)
• Baz çizgisi kararlılığı:
- 0,0003 Abs/saat
• Tarama hızı:
- 10-4000 nm/dakika
- Ön izleme modunda 8000 nm/dakika
• Dalga boyu geçiş hızı:
- UV-Visible: 12.000 nm/dakika
- NIR: 48.000 nm/dakika
• Ölçüm modları:
- Absorbans
- %Transmittans
- Spektrum tarama
- Kantitatif analiz
- Sabit dalga boyu ölçümü
- Zaman taraması
- Çift dalga boyu zaman taraması
- Validasyon
- Günlük performans kontrolü
• Analog çıkış
• USB kontrollü aksesuar desteği
• IQ Accessory otomatik aksesuar tanıma
• IQ Start hızlı analiz başlatma
• Spectra Manager II yazılım desteği
• iRM renkli dokunmatik kontrol ünitesi desteği
• USP, EP ve JP validasyon desteği
• Opsiyonel IQ/OQ dokümantasyonu
• Opsiyonel 21 CFR Part 11 uyumlu yazılım
• Güç tüketimi: 150 VA
• Boyutlar: 460 × 602 × 268 mm
• Ağırlık: Yaklaşık 29 kg
Desteklenen Opsiyonel Aksesuarlar
• Integrating Sphere (difüz reflektans ve transmittans)
• Manuel mutlak reflektans aksesuarı
• Otomatik mutlak reflektans sistemi
• Fiber optik ölçüm sistemi
• Otomatik numune değiştirici
• Peltier sıcaklık kontrollü hücre tutucuları
• Mikro ve ultra mikro hacim hücreleri
• One Drop mikro hacim sistemi
• Akış hücresi sistemleri
• Katı numune tutucuları
• Toz numune aksesuarları
• Mikrotitre plaka okuyucu
• Sipper sistemi
• Uzun optik yol küvetleri
• Programlanabilir sıcaklık kontrollü sistemler
Performans Özellikleri
• 190-2700 nm geniş UV-Visible/NIR ölçüm aralığı
• Opsiyonel olarak 3200 nm'ye kadar ölçüm kapasitesi
• PMT ve Peltier soğutmalı PbS çift dedektör sistemi
• Yüksek optik geçirgenlik sağlayan tek monokromatör tasarımı
• NIR bölgesinde yüksek sinyal/gürültü oranı
• 0,1 nm'ye kadar ayarlanabilir UV-Visible bant genişliği
• 0,4-40 nm ayarlanabilir NIR bant genişliği
• 8000 nm/dakikaya kadar ön izleme tarama hızı
• Difüz reflektans, mutlak reflektans ve transmittans analizlerine uygun yapı
• Çok düşük RMS gürültü
• Yüksek baz çizgisi kararlılığı
• Geniş aksesuar ekosistemi ile çok yönlü analiz imkânı
Kullanım Alanları
• UV-Visible ve NIR analizleri
• Farmasötik araştırma ve kalite kontrol
• Üniversiteler ve araştırma merkezleri
• Malzeme bilimi
• Optik filtre karakterizasyonu
• Lens ve kaplama analizleri
• Polimer analizleri
• Yarı iletken malzeme analizleri
• Nanomalzeme karakterizasyonu
• Gıda analizleri
• Tarım ve yem analizleri
• Kimya laboratuvarları
• Çevre analizleri
• Tekstil analizleri
• Toz ve katı numune analizleri
• Difüz reflektans ölçümleri
• Mutlak reflektans ölçümleri
• Geçirgenlik analizleri
• Renk analizleri
JASCO V-770 UV-VIS-NIR Spektrofotometre, UV-Visible ve Yakın Kızılötesi bölgelerini tek cihazda birleştiren gelişmiş optik sistemi, PMT ve Peltier soğutmalı PbS dedektörleri, 3200 nm'ye kadar genişletilebilir ölçüm kapasitesi ve kapsamlı aksesuar seçenekleri ile araştırma laboratuvarları, ileri malzeme karakterizasyonu ve kalite kontrol uygulamaları için yüksek performanslı ve çok yönlü bir analiz çözümü sunar.