JASCO V-780 UV-VIS-NIR Spektrofotometre, JASCO V-700 Serisinin UV-Visible ve Yakın Kızılötesi (NIR) analizleri için geliştirilmiş yüksek hassasiyetli araştırma modelidir. Sistem, UV-Visible bölgesinde Photomultiplier Tube (PMT), NIR bölgesinde ise Peltier soğutmalı InGaAs dedektör kullanarak özellikle 1000-1600 nm aralığında PbS dedektörlü sistemlere göre daha yüksek hassasiyet ve daha düşük gürültü performansı sağlar.
Tek monokromatörlü, tam simetrik çift ışınlı (Fully Symmetrical Double Beam) optik tasarım sayesinde optik enerji kayıpları minimum seviyeye indirilmiş, yüksek sinyal/gürültü oranı elde edilmiştir. UV-Visible ve NIR bölgeleri için farklı kırınım ızgaraları ile çalışan sistem, dedektör ve ızgara geçişlerini otomatik olarak gerçekleştirerek tüm spektral aralık boyunca optimum performans sunar.
Spectra Manager II yazılımı ile spektrum tarama, kantitatif analiz, zaman taraması, kinetik analiz, reflektans ölçümleri, validasyon ve gelişmiş veri işleme işlemleri gerçekleştirilebilir. IQ Accessory teknolojisi sayesinde aksesuarlar otomatik olarak tanınırken, IQ Start fonksiyonu rutin analizlerin tek tuşla başlatılmasına olanak tanır.
Teknik Özellikler
• Ölçüm prensibi: UV-Visible / Near Infrared (UV-VIS-NIR) Spektrofotometre
• Optik sistem: Fully Symmetrical Double Beam
• Monokromatör: Tek Monokromatör (Single Monochromator)
• Optik tasarım: Czerny-Turner
• Dalga boyu aralığı: 190-1600 nm
• Işık kaynakları:
- Döteryum lamba
- Tungsten-Halojen lamba
• Dedektörler:
- UV-Visible: Photomultiplier Tube (PMT)
- NIR: Peltier soğutmalı InGaAs fotodiyot
• UV-Visible kırınım ızgarası: 1200 çizgi/mm
• NIR kırınım ızgarası: 600 çizgi/mm
• Dedektör ve ızgara geçişi: Otomatik (800-900 nm arasında kullanıcı tarafından seçilebilir)
• Dalga boyu doğruluğu:
- ±0,3 nm (656,1 nm)
- ±1,0 nm (1312,2 nm)
• Dalga boyu tekrarlanabilirliği:
- ±0,05 nm (UV-Visible)
- ±0,10 nm (NIR)
• Spektral bant genişliği (UV-Visible):
- 0,1 nm
- 0,2 nm
- 0,5 nm
- 1 nm
- 2 nm
- 5 nm
- 10 nm
- L2, L5, L10 düşük kaçak ışık modları
- M1, M2 mikro hacim modları
• Spektral bant genişliği (NIR):
- 0,2 nm
- 0,4 nm
- 0,5 nm
- 1 nm
- 2 nm
- 4 nm
- 10 nm
- 20 nm
- L4, L10, L20 düşük kaçak ışık modları
- M2, M4 mikro hacim modları
• Fotometrik ölçüm aralığı:
- UV-Visible: -4 ila +4 Abs
- NIR: -3 ila +3 Abs
• Fotometrik doğruluk:
- ±0,0015 Abs (0-0,5 Abs)
- ±0,0025 Abs (0,5-1 Abs)
- ±0,3 %T
• Fotometrik tekrarlanabilirliği:
- ±0,0005 Abs
• Kaçak ışık (UV-Visible):
- %1 (198 nm KCl çözeltisi)
- %0,0005 (220 nm NaI çözeltisi)
- %0,0005 (340 nm NaNO₂ çözeltisi)
- %0,0005 (370 nm NaNO₂ çözeltisi)
• Kaçak ışık (NIR):
- %0,04 (1420 nm H₂O, L8 modu)
• RMS gürültü:
- 0,00003 Abs
(500 nm, 0 Abs, 60 saniye, SBW 2 nm)
• Baz çizgisi düzlüğü:
- ±0,0002 Abs (200-1600 nm)
• Baz çizgisi kararlılığı:
- 0,0003 Abs/saat
- ±0,0004 Abs/saat (250 nm, SBW 2 nm)
• Tarama hızı:
- 10-4000 nm/dakika
- Ön izleme modunda 8000 nm/dakika
• Dalga boyu geçiş hızı:
- UV-Visible: 12.000 nm/dakika
- NIR: 24.000 nm/dakika
• Ölçüm modları:
- Absorbans
- %Transmittans
- Spektrum tarama
- Kantitatif analiz
- Sabit dalga boyu ölçümü
- Zaman taraması
- İki dalga boylu zaman taraması
- Validasyon
- Günlük performans kontrolü
• Standart fonksiyonlar:
- IQ Accessory
- IQ Start
- Analog çıkış
• Yazılım:
- Spectra Manager II
- iRM renkli dokunmatik kontrol ünitesi desteği
- USP, EP ve JP validasyon programları
- Opsiyonel IQ/OQ dokümantasyonu
- Opsiyonel 21 CFR Part 11 uyumlu yazılım
• Güç tüketimi: 150 VA
• Boyutlar: 460 × 602 × 268 mm
• Ağırlık: Yaklaşık 29 kg
Desteklenen Opsiyonel Aksesuarlar
• Otomatik numune değiştirici
• Çoklu küvet taşıyıcıları
• Peltier sıcaklık kontrollü hücre tutucuları
• Mikro ve ultra mikro hacim hücreleri
• One Drop mikro hacim sistemi
• Akış hücresi sistemleri
• Fiber optik ölçüm sistemleri
• Integrating Sphere (difüz reflektans ve transmittans)
• Manuel mutlak reflektans aksesuarı
• Otomatik mutlak reflektans sistemi
• Katı numune tutucuları
• Toz numune aksesuarları
• Mikrotitre plaka okuyucu
• Sipper sistemi
• Uzun optik yol küvetleri
• Programlanabilir sıcaklık kontrollü sistemler
Performans Özellikleri
• 190-1600 nm UV-Visible ve NIR ölçüm aralığı
• PMT ve Peltier soğutmalı InGaAs dedektör kombinasyonu
• InGaAs dedektör sayesinde 1600 nm'ye kadar yüksek hassasiyet
• Tek monokromatörlü yüksek optik enerji geçirgenliği
• Tam simetrik gerçek çift ışınlı optik sistem
• 0,1 nm'ye kadar ayarlanabilir UV-Visible bant genişliği
• 0,2-20 nm ayarlanabilir NIR bant genişliği
• 8000 nm/dakikaya kadar ön izleme tarama hızı
• Çok düşük RMS gürültü
• Düşük kaçak ışık performansı
• Yüksek baz çizgisi kararlılığı
• Reflektans, transmittans ve absorbans analizlerine uygun yapı
• Geniş aksesuar desteği ile çok yönlü uygulama imkânı
Kullanım Alanları
• UV-Visible analizleri
• Yakın Kızılötesi (NIR) analizleri
• Farmasötik araştırma ve kalite kontrol
• Üniversiteler ve araştırma merkezleri
• Malzeme karakterizasyonu
• Polimer analizleri
• Nanomalzeme araştırmaları
• Optik filtre analizleri
• Lens ve kaplama karakterizasyonu
• Gıda analizleri
• Tarım ürünleri analizleri
• Kimya laboratuvarları
• Çevre analiz laboratuvarları
• Tekstil analizleri
• Katı ve toz numune analizleri
• Difüz reflektans ölçümleri
• Mutlak reflektans ölçümleri
• Geçirgenlik analizleri
• Renk analizleri
JASCO V-780 UV-VIS-NIR Spektrofotometre, 190-1600 nm spektral aralığı, PMT ve Peltier soğutmalı InGaAs dedektör kombinasyonu, yüksek optik geçirgenlik sağlayan tek monokromatör tasarımı ve gelişmiş Spectra Manager II yazılımı ile özellikle 1000-1600 nm bölgesinde maksimum hassasiyet gerektiren araştırma ve kalite kontrol uygulamaları için geliştirilmiş profesyonel bir UV-VIS-NIR analiz sistemidir.